山東閱芯電子科技有限公司

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

HTXB

革命性的創(chuàng )新理念,重新定義環(huán)境老化試驗設備

HTXB 品牌系列產(chǎn)品是一款多功能的功率半導體器件環(huán)境老化試驗設備。主要用于功率半導體器件的環(huán)境老化試驗,比如 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的 HTGB/HTRB 試驗。




HTXB 品牌系列產(chǎn)品采用全新的革命性創(chuàng )新設計理念,重新定義環(huán)境老化試驗設備。允許在一臺設備上完成 HTGB/HTRB 兩種不同的試驗,極大地提高了設備綜合利用率,并減少了采購成本,解決了實(shí)驗室空間緊張的問(wèn)題,降低并優(yōu)化了老化試驗的人力、電力支出綜合成本。電源電壓范圍最大為 0~6500V,可以根據客戶(hù)要求選擇不同電壓等級電源,滿(mǎn)足了不同產(chǎn)品同時(shí)試驗的需求。試驗溫度范圍最大可達常溫~260℃,滿(mǎn)足了寬禁帶半導體器件老化試驗對于更高溫度測試需求。最多支持 1280 個(gè)分立器件或72只半橋模塊(上下橋切換),并支持不同封裝的分立器件和模塊組合試驗,最大化地利用資源滿(mǎn)足研發(fā)和大批量生產(chǎn)要求。

HTXB 品牌系列產(chǎn)品還支持用戶(hù)通過(guò) ALITA SMART LAB 等軟件在移動(dòng)端/PC 端進(jìn)行遠程監測和控制,用戶(hù)可以隨時(shí)隨地的控制或者了解試驗進(jìn)程。設備發(fā)生異常狀態(tài)會(huì )自動(dòng)報警,極大地緩解了值班人員工作壓力。

HTXB-多功能智能環(huán)境老化測試系統

編號 : A004
典型測試結果
PRIME-REL
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